红外半导体器件仿真与测试

课程编码：280216085408P3020 英文名称：Infrared Semiconductor Device Simulation and Measurement 课时：40 学分：2.00 课程属性：专业课 主讲教师：胡伟达等

近几十年来，窄禁带半导体光电探测器件对人类社会发展起到了重要作用，现在要求探测器灵敏度更高、功能更多、速度更快等，器件需要进一步的设计、优化及功能迭代。本课程详细介绍了新型窄禁带半导体光电器件理论、建模与仿真方法，提供了一些新型器件的物理机制并得到半解析模型实例，另外针对如何测试得到高灵敏度、多功能及高速器件提供测试方案。

半导体器件与物理、信号与系统

第一章 窄禁带半导体器件仿真方法 12.0学时
第1节 半导体仿真软件
第2节 器件仿真实例
第3节 器件结构设计
第4节 器件性能仿真分析——电场
第5节 器件性能仿真分析——IV特性曲线
第6节 器件性能仿真分析——光响应
第7节 器件性能仿真分析——探测率
第8节 新型器件建模分析
第9节 新型器件优化设计方法
第二章 窄禁带半导体器件测试方法 8.0学时
第1节 红外焦平面探测器技术
第2节 红外物理-发射与吸收
第3节 红外物理-传输
第4节 红外物理-探测
第三章 窄禁带探测器测试表征 12.0学时
第1节 红外探测器-测试标准
第2节 红外探测器-测试原理
第3节 红外探测器-测试系统
第四章 多功能红外光电探测器 8.0学时
第1节 InGaAs红外光电探测器
第2节 量子阱红外光电探测器
第3节 非本征硅基红外光电探测器

胡伟达，男，研究员，博导。国家杰出青年基金获得者，中国青年科技奖获得者，国家重点研发计划首席科学家，基础加强重点项目负责人，Clarivate全球高被引学者，上海市自然科学一等奖（第一完成人），长期从事红外探测器及其智能芯片应用研究。李宁，男，1968年10月生，九三社员，理学博士，长期从事红外探测器应用研究。