材料表征基础
课程编码：480032070301P4002
英文名称：Fundamentals of Material Characterization
课时：20
学分：1.00
课程属性：研讨课
主讲教师：刘美蓉等
教学目的要求
本课程的目的在于介绍材料表征中常用仪器的原理、构造和应用。通过本课程的学习，使学生了解并掌握常用的材料表征技术，助力科研工作。
现代化学研究中材料表征常用的技术较多，本课程结合中科院化学所研究生的实际工作特点，挑选X-射线衍射、光电子能谱、光谱分析和元素定量分析等常用的表征技术，主要介绍仪器原理、构造、技术应用和最新进展，并挑选实际科研中的大量应用案例进行讨论分析。
预修课程
无机化学，有机化学，物理化学，分析化学
大纲内容
第一章 X-射线衍射 5.0学时
第1节 X-射线衍射技术简介
第2节 几何晶体学基础知识
第3节 X-射线衍射物理基础知识
第4节 布拉格方程和谢乐公式
第5节 X-射线衍射仪和图谱的分析
第二章 光电子能谱 5.0学时
第1节 光电子能谱学概述及其基本原理
第2节 XPS谱仪的基本构造
第3节 XPS谱图识别
第4节 光电子能谱的应用
第三章 光谱分析 5.0学时
第1节 荧光原理、仪器构造及相关技术
第2节 飞秒超快光谱原理，仪器构造及相关技术
第3节 共聚焦原理，仪器构造及相关技术
第4节 傅里叶红外光谱和激光拉曼原理，仪器构造及相关技术
第四章 元素定量分析 3.0学时
第1节 有机元素微量定量分析概述、原理及有机元素分析仪
第2节 卤素的分析原理及分析仪器
第3节 无机元素的微量定量分析原理及分析仪器
第五章 二次离子质谱 2.0学时
第1节 二次离子质谱（SIMS）概述和基本原理
第2节 飞行时间-二次离子质谱（ToF-SIMS）的高级应用
参考书
1、
晶体和准晶体的衍射
周公度，郭可信
1999.1
北京大学出版社
2、
论表面分析及其在材料研究中的应用
黄惠忠等
2002.1
科学技术文献出版社
课程教师信息
郝项，中国科学院化学研究所；赵志娟，中国科学院化学研究所；刘美蓉，中国科学院化学研究所；李巧连，中国科学院化学研究所；赵耀，中国科学院化学研究所