VLSI测试与可测试性设计

课程编码：180086081201P3002H 英文名称：VLSI Testing and Design for Testability 课时：40 学分：2.00 课程属性：专业课 主讲教师：李晓维等

本课程为计算机系统结构专业以及集成电路设计自动化专业研究生的专业普及课。本课程的基本目的是使学生掌握VLSI系统测试和可测性设计的基本原理和主要方法，把握VLSI系统测试和可测性设计的学科前沿方向，并对EDA系统中有关测试和可测性设计工具有初步认识和实践体会。通过选修这门课程, 学生将对VLSI系统测试与可测性设计技术有较全面的认识, 不仅对各种具体技术（如故障模拟、自动测试生成、可测性设计等）的原理和方法有较准确的理解和掌握, 而且能对本学科前沿的发展情况有一个客观的把握。并且对一些EDA系统中测试与可测性设计工具能有切身的体会,得到一定的实践经验。

数字电路

第一章 VLSI测试技术导论 3学时 李晓维
第1节 课程简介与VLSI测试技术应用背景介绍
第2节 VLSI测试技术总览
第二章 可测试性设计 7学时 李晓维
第1节 可测试性分析
第2节 可测试性设计基础
第3节 扫描设计原理与扫描单元
第4节 扫描体系结构与专用扫描设计
第5节 RTL可测试性设计
第三章 逻辑与故障模拟 3学时 李华伟
第1节 逻辑模拟
第2节 故障模拟
第四章 测试生成 3学时 李华伟
第1节 测试生成的理论基础
第2节 测试生成算法与优化技术
第五章 逻辑自测试 3学时 李华伟
第1节 逻辑自测试（LBIST）原理与架构
第2节 LBIST故障覆盖率增强
第3节 LBIST时序控制
第六章 测试压缩 3学时 李华伟
第1节 测试激励压缩
第2节 测试响应压缩
第七章 逻辑诊断 3学时 李华伟
第1节 组合逻辑诊断
第2节 扫描链诊断
第3节 逻辑自测试诊断
第八章 存储器测试与BIST 3学时 李华伟
第1节 存储器故障模型与测试算法
第2节 存储器内建自测试体系结构
第九章 存储器诊断与BISR 3学时 李华伟
第1节 存储器内建自测试的诊断支持
第2节 存储器内建自修复架构
第3节 冗余分析算法
第十章 边界扫描与SOC测试 3学时 李华伟
第1节 边界扫描
第2节 SOC测试
第十一章 纳米电路测试技术 3学时 李华伟
第1节 测试技术发展趋势与挑战
第2节 前沿测试技术拓展
第十二章 总结与复习 3学时 李华伟
第1节 VLSI测试技术要点回顾与总结
第2节 各章习题讲解

李晓维：现任中国科学院计算所研究员（中国科学院大学岗位教授）、计算所学位评定委员会副主席，计算机体系结构国家重点实验室常务副主任。获国家技术发明奖、国家科技进步奖；入选国家百千万人才工程和科技北京百名领军人才培养工程，获有突出贡献中青年专家、全国优秀科技工作者等荣誉称号。现任中国计量测试学会集成电路测试专业委员会主任；中国电子学会理事；中国计算机学会理事/会士、JCST副主编。IEEE CS TTTC 副主席，IEEE TCAD、JETTA等国际期刊编委。
李华伟：中科院计算所研究员，博士生导师。担任中国计算机学会（CCF）容错计算专委主任，CCF理事，中国计量测试学会集成电路测试专委副主任兼秘书长；担任《IEEE Transaction on VLSI Systems》、《计算机辅助设计与图形学学报》、《计算机研究与发展》编委。主要从事集成电路测试验证、可靠性设计和设计自动化研究，发表学术论文200余篇，授权发明专利27项。研究成果荣获国家技术发明二等奖、北京市科技一等奖、中国质量技术一等奖等多个奖项。